X光散射技术 编辑
X光散射技术或X射线衍射技术是一系列常用的非破坏性分析技术，可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础，并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析，例如不同的温度或压力。
5
图片 0 图片
评论 0 评论
匿名用户 · [[ show_time(comment.timestamp) ]]
[[ nltobr(comment.content) ]]
相关
织构是描述一个多晶材料中，原本应该是随机分布的结晶方位，却因为制程使得多数晶粒具有类似的结晶方位，称之为织构或是优选方位。一般来说，形成织构的原因通常是金属经过深抽、轧制或是挤型等加工程序，使得金属内部的晶粒往相同的方向排列，如镁合金在压延后就有强烈的方位。近期的发展中，亦有部分是透过薄膜成长而产生类似结晶方位的微观组织，亦可称之为织构。通常会用X光散射技术或是背向散射电子绕射技术去进行织构的分析。织构的产生会凸显出异向性，异向性为不同方位下的性质不同，若没有织构的影响，方位是随机的，其异向性会被抵销掉，若有织构，其特定方向的异向性就会特别凸显出来，如镁合金在方位有较强的强度，因此产生织构会使镁合金在此方向有较高的强度。