垂直显像SMI 编辑
垂直显像SMI是1996年在SMI与SPDM的基础上开发出来的，能在奈米等级上最快分析完整的3D细胞结构的光学显微镜，有效的奈米级光学分辨率，在解析2D图像能达到5 nm，而在解析3D图像能达到40 nm，所以比起以恩斯特·阿贝定律所算出来的物理极限200 nm还要更佳。 恩斯特·阿贝在1873年提出理论上光学显微镜的分辨率限制假说。
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