自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
电子测试设备是用来产生讯号来测试被测器件，以及记录被测器件的反应及相关资讯。电子测试设备可以用来证明被测器件可以正常运作，或是追踪器件的一些问题。要开发电子系统，电子测试设备是其中重要的一环。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
在信号处理中， 群延迟是指信号通过被测器件的各正弦傅里叶级数的振幅包络的时延，并且是各频率分量的函数。 相反，相位延迟是与幅度包络的时间延迟相反的相位时间延迟。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
自动测试设备简称ATE，是指可以利用自动化技术，针对产品进行快速测试的设备，被测试的产品会称为被测器件。简单的自动测试设备可能只包括电脑控制的万用表，也可能是包括许多复杂测试设备，其目的是针对复杂的电子产品进行自动化测器以及故障诊断。自动测试设备也可以测试复杂的电子半导体封装，或进行芯片测试，待测器件可以是单片系统及集成电路。
在信号处理中， 群延迟是指信号通过被测器件的各正弦傅里叶级数的振幅包络的时延，并且是各频率分量的函数。 相反，相位延迟是与幅度包络的时间延迟相反的相位时间延迟。
Mini wiki
6
