负偏置温度不稳定性 编辑
负偏置温度不稳定性是影响金属氧化物半导体场效晶体管可靠性的一个重要问题，它主要表现为阈值电压的偏移。也被列入半导体元件中，可靠度分析的重要指标。NBTI 效应是CMOS电路中PMOS在Gate给相对负偏压作用下出现的一种退化现象。包含了
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