近场扫描光学显微镜 编辑
近场扫描光学显微镜 是一个 显微镜学 技术，用于结构调查，其利用渐逝波的特性打破远场中绕射极限 。 在SNOM， 吸收光谱学激光光透过一个直径小于激光波长的孔径聚焦，从而在孔径的远端产生消逝场。 当样品在短距离地在孔径下扫描，光学分辨率只跟孔径的直径有关。 此时，横向分辨率可达20 纳米、垂直分辨率可达2-5 纳米。
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