X射线衍射法 - The mini wiki

X射线衍射法编辑

X光散射技术或X射线衍射技术是一系列常用的非破坏性分析技术，可用于揭示物质的晶体结构、化学组成以及物理性质。这些技术都是以观测X射线穿过样品后的散射强度为基础，并根据散射角度、极化度和入射X光波长对实验结果进行分析。X光散射技术可在许多不同的条件下进行分析，例如不同的温度或压力。

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键长是两个成键原子A和B的平衡核间距离。它是了解分子结构的基本构型参数，也是了解化学键强弱和性质的参数。对于由相同的A和B两个原子组成的化学键：键长值小，键强；键的数目多，键长值小。在实际的分子中，由于受共轭效应、空间阻碍效应和相邻基团电负性的影响，同一种化学键键长还有一定差异。由大量的键长值可以推引出成键原子的原子半径；反之，利用原子半径的加和值可得这种化学键的典型键长。若再考虑两个原子电负性差异的大小予以适当校正，和实际测定制会符合得很好。各种分子中键长的数值，大量地已通过晶体的X射线衍射法予以测定；为数较少的简单的气态分子和X-H键长已通过光谱法和中子衍射法测出。

德拜-沃勒因子，得名于彼得·德拜和伊瓦尔·沃勒，在凝聚态物理学中描述的是X射线衍射法中由热运动引起的衰减；又被称作B因子或者温度因子。兰姆-穆斯堡尔因子是德拜-沃勒因子在相干中子散射实验和穆斯堡尔谱学中的一个推广。