C-V特性曲线 - The mini wiki

C-V特性曲线编辑

C-V特性曲线是用来测量半导体材料和器件的一种方法。当所加电压改变时，电容被测出。方法是使用金属-半导体结或者PN结或者场效应管来得到耗尽层。当电压改变时，耗尽层深浅也发生变化。